半导体制冷元件特性参数测量及选用

作     者：戴维涵 代彦军 张鹏 王如竹 DAI Wei-han,DAI Yan-jun,ZHANG Peng,WANG Ru-zhu (Inst. of Refrigeration and Cryogenics, Shanghai Jiaotong Univ., Shanghai 200030, China)

作者机构：上海交通大学制冷与低温工程研究所上海200030 

基　　金：国家自然科学基金资助项目(50376079) 

出 版 物：《上海交通大学学报》 (Journal of Shanghai Jiaotong University)

年 卷 期：2004年第38卷第10期

页      码：1669-1672页

摘      要：提出了一种操作简便、精度好、可靠性高的半导体制冷元件特性参数测试方法,设计了专用实验装置,通过试验对不同型号半导体制冷元件的特性参数进行了对比分析.进一步将这些元件分别用于小型半导体冰箱进行制冷性能测试,并根据实验和理论分析结果提出了进一步提高半导体制冷装置效率的有效途径.

主 题 词：半导体制冷 制冷系数 优值系数 

学科分类：080705[080705] 08[工学] 0807[工学-电子信息类] 

核心收录：

D　O　I：10.3321/j.issn:1006-2467.2004.10.016

馆 藏 号：203192960...