500kV HGIS红外成像检漏及解体分析

作     者：张小平 薄鲁海 罗利云 王鹏 吴冬文 

作者机构：国网江西省电力公司检修分公司南昌330029 国网江西省电力科学研究院南昌330029 

出 版 物：《电工技术》 (Electric Engineering)

年 卷 期：2016年第10期

页      码：53-54页

摘      要：通过对SF6组合电器进行红外检漏工作,可及时发现设备在设计、制造和安装等过程产生的砂眼渗漏现象,从而有效避免电网故障发生。针对某500kV变电站HGIS盆式绝缘子浇筑口SF6气体渗漏情况,介绍HGIS设备和红外检漏的基本情况、HGIS设备渗漏点现场处理方案,通过解体分析盆式绝缘子密封圈失效原因,为带电检测技术在SF6气体设备运维中的实际应用提供参考。

主 题 词：HGIS 带电检测 红外检漏 解体分析 

学科分类：08[工学] 0803[工学-仪器类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1002-1388.2016.10.024

馆 藏 号：203195011...