二维辐射成像中空间分辨率的研究

作     者：吴志芳 周立业 刘锡明 安继刚 刘以思 Wu Zhifang;Zhou Liye;Liu Ximing;An Jigang;Liu Yisi

作者机构：清华大学核能技术设计研究院 

出 版 物：《原子能科学技术》 (Atomic Energy Science and Technology)

年 卷 期：1999年第33卷第1期

页      码：56-60页

摘      要：阐述了在二维辐射成像系统中不改变探测器物理尺寸而提高空间分辨率的方法。讨论了几何放大法、阵列探测器微位移法，并提出了一种新的方法——扫描微分法。该方法应用在６０Ｃｏ集装箱检测系统中取得了良好效果。

主 题 词：辐射成像 空间分辨率 阵列探测器 扫描成像 

学科分类：082704[082704] 08[工学] 0827[工学-食品科学与工程类] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.1000-6931.1999.01.010

馆 藏 号：203195025...