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CCD立靶操作误差的改善方法研究

CCD立靶操作误差的改善方法研究

作     者:王泽民 李静 雷志勇 

作者机构:西安工业大学电子信息工程学院陕西西安710032 

出 版 物:《电子设计工程》 (Electronic Design Engineering)

年 卷 期:2011年第19卷第16期

页      码:96-98页

摘      要:CCD立靶在应用中,光幕对准与靶距测量等都是现场布靶时人工操作完成,传统的设备和方法精度较差,影响了系统的测量精度。通过研究操作不慎对测量精度的影响,将操作误差转化为CCD对弹丸成像位置的偏差,推导了带有偏差的成像位置计算公式,针对光幕对准与靶距测量问题提出了激光测距仪双向对准靠平测距法,试验结果表明,采用该方法后系统的测量误差最大值由7 mm降低到了4 mm以内,测量精度得到了显著提高。

主 题 词:CCD立靶 弹丸 操作误差 测量精度 误差分析 

学科分类:080901[080901] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 0803[工学-仪器类] 

D O I:10.3969/j.issn.1674-6236.2011.16.036

馆 藏 号:203195555...

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