超环面晶体成像技术分析及实现

作     者：施军 彭帝永 肖沙里 SHI Jun;PENG Diyong;XIAO Shali

作者机构：重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室重庆400044 

基　　金：国家自然科学基金资助项目(11075226) 重庆市基础与前沿研究计划项目(cstc2014jcyjA90010) 

出 版 物：《光电工程》 (Opto-Electronic Engineering)

年 卷 期：2015年第42卷第9期

页      码：66-71页

摘      要：为了在聚爆装置上对目标靶进行光谱分析及成像诊断,设计了超环面晶体X射线成像系统。从理论上分析了Johann型弯曲晶体结构的成像像差,利用模拟软件对基于布拉格结构的弯晶系统进行仿真成像,研究布拉格角与成像空间分辨力的关系。采用Oxford射线管、X射线检测器及云母超环面晶体对金属网格进行了X射线背光成像实验,实验获得了网格的X射线图像及铜的Kα射线光谱,结果表明超环面晶体能够进行微米级的高分辩成像,也可用于检测X射线光谱。

主 题 词：X射线光谱 成像 分辨力 超环面晶体 

学科分类：07[理学] 070204[070204] 0702[理学-物理学类] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.1003-501x.2015.09.011

馆 藏 号：203197555...