基于边界扫描技术的板级BIT设计及测试策略

作     者：李桂祥 杨江平 王隆刚 

作者机构：空军雷达学院雷达系统工程系武汉430019 华中科技大学电子与信息工程系武汉430074 

出 版 物：《现代雷达》 (Modern Radar)

年 卷 期：2003年第25卷第6期

页      码：1-4页

摘      要：随着超大规模集成电路 (VLSI)、表面安装器件 (SMD)、多层印制电路板 (MPCB)等技术的发展 ,常规BIT设计面临挑战。为解决上述问题 ,本文提出了一种基于边界扫描技术的板级BIT的扫描器件置入法及其测试策略。该方法操作简单 ,经济实用 ,一旦广泛使用 ,无疑将会有很好的军事经济效益。

主 题 词：边界扫描 BIT 测试策略 超大规模集成电路 表面安装器件 多层印制电路板 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1004-7859.2003.06.001

馆 藏 号：203198122...