基于装配层的配合尺寸继承与检验

作     者：张树有 谭建荣 彭群生 ZHANG Shu You;TAN Jian Rong;PENG Qun Sheng

作者机构：浙江大学CAD&CG国家重点实验室杭州310027 

基　　金：国家"八六三"高技术研究发展计划(863 -5 11-942 -0 0 1) 浙江省自然科学基金(6980 2 3 )资助 

出 版 物：《计算机辅助设计与图形学学报》 (Journal of Computer-Aided Design & Computer Graphics)

年 卷 期：2001年第13卷第6期

页      码：509-513页

摘      要：尺寸信息的表达与处理 ,直接关系到零件的加工成本以及产品质量 .文中分析了装配层尺寸的约束与关联 ,提出了基于装配层的配合尺寸继承与尺寸检验方法 .通过配合的识别、尺寸匹配的自组织 ,实现了不同零件间的配合尺寸的关联 ,不仅解决了装配层与零件层间具有直接匹配关系的尺寸合理性判别问题 ,而且可通过尺寸约束与空间基坐标的传递 。

主 题 词：装配层 配合尺寸 检验 机械制图 CAD 参数化设计 

学科分类：08[工学] 080203[080203] 0802[工学-机械学] 

核心收录：

D　O　I：10.3321/j.issn:1003-9775.2001.06.007

馆 藏 号：203202527...