基于ATE的FPGA器件测试方案研究

作     者：焦亚涛 顾颖 石雪梅 JIAO Yatao;GU Ying;SHI Xuemei

作者机构：航天科工二院二〇一所微电子器件可靠性研究室北京100854 

出 版 物：《计算机与数字工程》 (Computer & Digital Engineering)

年 卷 期：2015年第43卷第1期

页      码：80-82页

摘      要：在FPGA器件的测试领域,由于通用ATE的局限性,需要为ATE设计FPGA配置板。然而目前行业内通用的配置方案测试效率低、可移植性差,给FPGA器件测试程序的开发和测试都带来了很多不便。论文提出了一种新的FPGA多重自动配置技术,设计采用FPGA作为主控制器,大容量FLASH芯片用于存储目标FPGA的配置数据,具有大量存储、调取灵活、配置快速等优点,实现了Xilinx公司绝大部分不同型号的FPGA器件的多重、自动、快速重配置,有效地解决了原配置方案的弊端,提高了FPGA测试的效率。

主 题 词：FPGA 重配置 自动配置 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn1672-9722.2015.01.021

馆 藏 号：203202541...