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检测方向和提离值对磁记忆检测信号的影响

检测方向和提离值对磁记忆检测信号的影响

作     者:于凤云 张川绪 吴淼 YU Feng-yun;ZHANG Chuan-xu;WU Miao

作者机构:中国矿业大学(北京)机电与信息工程学院 

基  金:黑龙江省教育厅资助项目(10551276) 

出 版 物:《机械设计与制造》 (Machinery Design & Manufacture)

年 卷 期:2006年第5期

页      码:118-120页

摘      要:金属磁记忆检测技术是利用磁致伸缩逆效应对铁磁性构件进行检测的新技术,本文通过试验研究了构件的放置方向和探头的提离值对磁记忆信号的影响。试验结果表明:无论试样如何放置,其表面的磁场强度分布规律没有发生变化,水平放置时磁场强度信号最大,构件水平(或铅垂)放置时,检测面平行和垂直于地磁轴两个方向的磁场强度几乎相等。探头提离值的大小对磁场强度及其梯度均产生影响,但曲线峰-峰值的位置没有改变。据此得出:构件的放置方向和探头的提离值影响磁场强度的大小,但对应力集中区的判断不产生影响。

主 题 词:磁记忆 地磁场 磁场强度 提离值 放置方向 

学科分类:080805[080805] 080904[080904] 0808[工学-自动化类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D O I:10.3969/j.issn.1001-3997.2006.05.055

馆 藏 号:203202557...

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