FPGA通用验证平台建立方法研究

作     者：吕欣欣 刘淑芬 LV Xin-xin;LIU Shu-fen

作者机构：北京控制工程研究所北京100190 

出 版 物：《微电子学与计算机》 (Microelectronics & Computer)

年 卷 期：2010年第27卷第5期

页      码：46-49页

摘      要：现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)的设计可靠性直接影响产品的可靠性,因此必须对FPGA设计进行高效和充分的验证.对传统功能仿真验证进行了分析,从验证方法和方法学角度阐述了验证平台的发展趋势,提出并实现了一种层次化的通用验证平台,利用该平台对两个被测设计(Design Under Test,DUT)进行验证.验证结果表明,该方法建立起的验证平台具备一定的通用性,可有效提高验证覆盖率和验证效率.

主 题 词：FPGA 验证平台 验证方法学 通用 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.19304/j.cnki.issn1000-7180.2010.05.012

馆 藏 号：203203658...