一种便携式VDMOS单粒子试验测试系统

作     者：魏亚峰 滕丽 温显超 俞宙 WEI Yafeng;TENG Li;WEN Xianchao;YU Zhou

作者机构：中国电子科技集团公司第24研究所重庆400060 模拟集成电路重点实验室重庆400060 

出 版 物：《太赫兹科学与电子信息学报》 (Journal of Terahertz Science and Electronic Information Technology)

年 卷 期：2016年第14卷第5期

页      码：816-819,824页

摘      要：设计了一种在线测试系统,用于监测垂直双扩散金属-氧化物半导体场效应晶体管(VDMOS)器件在单粒子试验中的单粒子效应。简述了实验原理,从偏置设计与波形获取及仪器控制与远程监测多个方面详细论述了测试系统的硬件结构;给出了软件的设计流程及测试系统的操作界面。最后应用该自动测试系统开展了试验,结果表面该系统稳定可靠,便携易用。

主 题 词：垂直双扩散金属-氧化物半导体场效应晶体管 单粒子效应 单粒子烧毁 测试系统 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080501[080501] 0805[工学-能源动力学] 080502[080502] 

D　O　I：10.11805/TKYDA201605.0816

馆 藏 号：203208324...