基于BCH算法的高速缓存纠检错方案研究

作     者：王珍珍 杨志涛 王晶 张伟功 WANG Zhen-zhen;YANG Zhi-tao;WANG Jing;ZHANG Wei-gong

作者机构：首都师范大学信息工程学院北京100048 唐山现代工控技术有限公司河北唐山063000 北京成像技术高精尖创新中心北京100048 电子系统可靠性技术北京市重点实验室北京100048 

基　　金：国家自然科学基金项目(61472260 61402302 61502321) 北京市属高等学校创新团队建设与教师职业发展计划项目(IDHT20150507) 

出 版 物：《微电子学与计算机》 (Microelectronics & Computer)

年 卷 期：2016年第33卷第11期

页      码：124-128页

摘      要：针对抗辐射微处理器的容错需求,特别是在高速缓存中由单粒子效应造成的多位翻转故障,设计了一种高速缓存纠检错方案,以LEON2处理器为研究平台,分别对指令Cache和数据Cache的标记存储器和数据存储器设计并行的BCH编码器和译码器,实现多达4位错误的检测.针对检测到的多位错误,利用存储层次特征,实现对故障的有效规避.以LEON2处理器为研究平台的仿真结果证明,该方案能够有效应对高速缓存中单粒子效应所引发的多位错误,并且方案的资源开销和性能开销都比较小,为未来纳米级微处理器的容错设计提供了支撑.

主 题 词：BCH码 单粒子效应 并行 高速缓存 检错 

学科分类：08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.19304/j.cnki.issn1000-7180.2016.11.027

馆 藏 号：203208506...