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一维扭转式微镜的偏转角特性测试

一维扭转式微镜的偏转角特性测试

作     者:杜晓晴 温志渝 刘海涛 赵釜 DU Xiao-qing;WEN Zhi-yu;LIU Hai-tao;ZHAO Fu

作者机构:重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室重庆400044 重庆大学微系统研究中心重庆400044 

基  金:科技部国际合作项目(No.2004DFA00600) 重庆市科委基金项目(No.CSTC-2006BB2151) 重庆市科委科技攻关项目(No.CSTC-2006BB) 

出 版 物:《功能材料与器件学报》 (Journal of Functional Materials and Devices)

年 卷 期:2008年第14卷第2期

页      码:341-344页

摘      要:设计了一种基于激光扫描与光学成像技术的测试方法来实现一维扭转式微镜的偏转角特性测试。该方法采用激光作为光源,利用微镜自身的光学扫描特性以及人眼的存储记忆效应,获得激光点光源在微镜静止与高频工作下在成像屏上的像点坐标,从而可以计算出微镜在一定驱动电压下的偏转角大小。误差分析表明该方法的平均测试误差±0.043°,测试精度1%;而实验数据进一步说明测试结果与参考曲线一致。所设计的测试方法摆脱了常规微镜测试对显微镜、干涉测量仪、CCD等精密复杂设备的依赖性,测试简单、易于实现且准确度较高,可为微镜应用提供可靠依据。

主 题 词:微镜 偏转角 激光扫描 测试 误差分析 

学科分类:080901[080901] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D O I:10.3969/j.issn.1007-4252.2008.02.013

馆 藏 号:203209476...

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