一种专用集成电路功能测试仪的设计与实现

作     者：王玲 任恭海 高德远 

作者机构：西北工业大学 北京大学 

基　　金：八五预研项目 

出 版 物：《西北工业大学学报》 (Journal of Northwestern Polytechnical University)

年 卷 期：1997年第15卷第4期

页      码：575-580页

摘      要：采用现场可编程门阵列（ＦＰＧＡ）技术设计与实现了一种低成本、高性能的专用集成电路（ＡＳＩＣ）功能测试仪——ＮＰＵＡＳＩＣ测试仪。测试管脚多达１２８路，每路独立可编程，具有多种测试模式，可测试静态和动态芯片，并具备初步的速度测试能力。该测试仪是在ＩＢＭＰＣ及其兼容机上开发的，操作系统为ＤＯＳ；测试环境成熟，提供了与Ｃ兼容的高级测试语言，并可与当前几种广泛使用的电子设计自动化（ＥＤＡ）工具接口。

主 题 词：性能价格比 集成电路 功能测试仪 设计 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

核心收录：

馆 藏 号：203209553...