基于图像特征的平面二维尺寸测量系统

作     者：魏烨 金一 袁家发 冯威 魏珅 WEI Ye;JIN Yi;YUAN Jia-fa;FENG Wei;WEI Shen

作者机构：中国科学技术大学工程科学学院安徽合肥230027 

基　　金：国家重点基础研究发展计划资助项目(2014CB049500) 中央高校基本科研业务费专项资金青年创新基金资助项目(WK2090090014) 中国博士后科学基金资助项目(2014M551820) 

出 版 物：《机械设计》 (Journal of Machine Design)

年 卷 期：2016年第33卷第12期

页      码：1-5页

摘      要：分析图像处理在测量零件的平面二维特征尺寸中的应用价值,针对大型工件二维平面特征的测量对象,设计了一个基于图像特征识别的非接触式光学尺寸测量系统。采用网格构造分区处理的图像拼接方法扩展测量范围,实现了对大型特征的完整采集。采用校正标定方法和相机校正方法减小测量系统的机械装置、光学系统等误差,提高测量精度。在对二维平面关键特征分析的基础上,利用亚像素处理提高算法精度,使最终测量精度可达到微米级。试验结果表明,该测量系统图像拼接精度可达0.8μm,测量精度高于5μm。该系统为图像处理在工业上大型工件尺寸检测方面的应用开发提供了有效的基础方法。

主 题 词：测量系统 特征识别 图像拼接 亚像素处理 图像处理 

学科分类：080704[080704] 08[工学] 0807[工学-电子信息类] 

核心收录：

D　O　I：10.13841/j.cnki.jxsj.2016.12.001

馆 藏 号：203210342...