老化实验条件下的IGBT寿命预测模型

作     者：赖伟 陈民铀 冉立 王学梅 徐盛友 Lai Wei;Chen Minyou;Ran Li;Wang Xuemei;Xu Shengyou

作者机构：输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室(重庆大学)重庆400044 华南理工大学电力学院广州510640 

基　　金：国家自然科学基金(51477019) 国家"111"计划(B08036) 中央高校基本科研业务费(CDJZR12150074) 国家重点基础研究发展计划(973计划)(2012CB25200)资助项目 

出 版 物：《电工技术学报》 (Transactions of China Electrotechnical Society)

年 卷 期：2016年第31卷第24期

页      码：173-180页

摘      要：以器件功率循环为基础,在疲劳损伤理论基础上建立功率器件寿命模型,以提高变流器的运行可靠性,为功率变流器的检修维护提供理论基础。给出了器件寿命预测模型的使用价值和意义,通过分析功率器件失效机理,设计了功率循环实验平台和老化实验方案,阐述了老化实验原理并给出了老化参数提取方法。利用Weibull分布建立了器件的一维寿命模型并分析了该模型的优缺点,提出了改进的器件三维寿命模型,通过对比、分析证明了该模型的准确性,得到的Arrhenius广延指数模型更能体现器件寿命分布。

主 题 词：寿命模型 功率循环 Weibull分布 Arrhenius广延指数模型 IGBT 

学科分类：080801[080801] 0808[工学-自动化类] 08[工学] 

核心收录：

D　O　I：10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.2016.24.021

馆 藏 号：203210454...