低相噪锁相介质振荡器研究

作     者：宋学峰 何庆国 Song Xuefeng;He Qingguo

作者机构：中国电子科技集团公司第十三研究所石家庄050051 

出 版 物：《半导体技术》 (Semiconductor Technology)

年 卷 期：2010年第35卷第11期

页      码：1126-1129页

摘      要：针对高的相位噪声指标要求,对取样锁相介质振荡器进行了研究。通过相位噪声分析,明晰了采用介质振荡器与取样锁相技术降低相位噪声的机理,并分别对介质振荡器与锁相环路进行了设计。设计中,应用HFSS与ADS对介质振荡器进行了联合仿真,体现了计算机辅助设计的优势。最终研制出17 GHz锁相介质振荡器,测试结果为:输出功率13.1 dBm;杂波抑制>70 dB;谐波抑制>25 dB;相位噪声为-105 dBc/Hz@1 kHz,-106 dBc/Hz@10 kHz,-111 dBc/Hz@100 kHz,-129 dBc/Hz@1 MHz。

主 题 词：相位噪声 介质振荡器 取样锁相环 联合仿真 计算机辅助设计 

学科分类：080904[080904] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1003-353x.2010.11.019

馆 藏 号：203210567...