宇航用塑封器件质量保证方案研究

作     者：陶帅 孔泽斌 TAO Shuai;KONG Ze-bin

作者机构：上海航天技术基础所上海201109 

出 版 物：《电子产品可靠性与环境试验》 (Electronic Product Reliability and Environmental Testing)

年 卷 期：2016年第34卷第6期

页      码：53-58页

摘      要：随着技术的进步和国外对高等级器件的禁运,低等级塑封器件在宇航产品中的使用比例逐年地增加。由于低等级塑封器件不是为宇航用产品所设计的,故其在宇航产品中运用时存在诸如密封、分层、吸湿和挥发等问题。低等级塑封器件在应用于宇航产品之前必须对其进行质量保证,制定相应的质量保证方案以确保所有的、应用于宇航产品上的元器件在额定条件下的失效率达到10^(-9)/h的水平。

主 题 词：塑封器件 质量保证 C型扫描声学显微分析法 “爆米花”效应 

学科分类：07[理学] 08[工学] 070104[070104] 0825[工学-环境科学与工程类] 0701[理学-数学类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1672-5468.2016.06.012

馆 藏 号：203210839...