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用于超热电子诊断的单色X射线成像技术

用于超热电子诊断的单色X射线成像技术

作     者:张强强 魏来 杨祖华 钱凤 陈勇 曹磊峰 Zhang Qiangqiang;Wei Lai;Yang Zuhua;Qian Feng;Chen Yong;Cao Leifeng

作者机构:中国工程物理研究院激光聚变研究中心等离子体物理重点实验室四川绵阳621900 

基  金:国家自然科学基金(11375160) 科技部国家重大科学仪器设备开发专项(2012YQ120125) 

出 版 物:《光学学报》 (Acta Optica Sinica)

年 卷 期:2016年第36卷第12期

页      码:324-329页

摘      要:基于球面弯晶设计了一套二维分辨的单色成像系统,使用光学仿真软件对系统进行了成像模拟。对金网格进行了背光成像,获得了8.048keV的单色网格成像,空间分辨率可达9μm。在神光II(SG-II)升级激光装置上,利用该成像系统成功获取了二维锥靶的Kα自发光单色图像。结果表明,该成像系统能够胜任快点火物理实验中超热电子的诊断。

主 题 词:X射线光学 单色成像 球面弯晶 超热电子 激光等离子体 

学科分类:07[理学] 070204[070204] 0702[理学-物理学类] 

核心收录:

D O I:10.3788/AOS201636.1234001

馆 藏 号:203210926...

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