数字太敏SoC的抗SEU加固设计

作     者：赵昌兵 付方发 肖立伊 ZHAO Chang-bing;FU Fang-fa;XIAO Li-yi

作者机构：哈尔滨工业大学微电子中心黑龙江哈尔滨150001 

出 版 物：《微电子学与计算机》 (Microelectronics & Computer)

年 卷 期：2017年第34卷第1期

页      码：1-5,11页

摘      要：针对航天应用中数字式太阳敏感器高可靠性的要求,对基于Leon3处理器平台的数字式太阳敏感器SoC在RTL级进行抗SEU加固设计.出于加固后整个系统速度和面积的考虑,本文针对SoC中不同部分采取不同的加固方法,综合使用了三模冗余、EDAC(Error Detection And Correction)电路、CPU流水线重启和Cache强制不命中等容错方法.使用故障注入的方法测试寄存器文件加固后系统的软错误敏感性,对寄存器加固效果进行评估.并在FPGA上进行原型实现,对比加固前后的速度及开销情况.

主 题 词：数字太敏 SoC SEU 故障注入 FPGA 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080501[080501] 0805[工学-能源动力学] 080502[080502] 

D　O　I：10.19304/j.cnki.issn1000-7180.2017.01.001

馆 藏 号：203210943...