星载65nm抗辐射GNSS接收机ASIC的SEFI实验方法

作     者：李梦良 乐立鹏 张建军 郑宏超 Li Mengliang Yue Lipeng Zhang Jianjun Zheng Hongchao

作者机构：中国航天电子技术研究院772所北京100076 

出 版 物：《电子技术应用》 (Application of Electronic Technique)

年 卷 期：2017年第43卷第1期

页      码：53-56,59页

摘      要：在抗辐射GNSS接收机的研发过程中,由于Xilinx 600万门FPGA在轨单粒子翻转(Single Event Upset,SEU)效应严重,而自主研发抗辐射GNSS接收机ASIC是最有效的解决办法。以航天五院重点型号项目"XX-2"项目为依托,在国内首次采用65 nm抗辐射工艺,用单个ASIC芯片实现了1 200万门规模的星载抗辐射GNSS接收机ASIC。但是,对此款新工艺/大规模/功能复杂的ASIC芯片进行单粒子功能中断测定是一个难题。通过在FPGA上模拟GNSS数字中频信号和DSP配置输入,然后由芯片的EMIF接口实时读取芯片内部关键数据来进行SEU/SEFI的判断,并设计了SEFI判断准则和相应的辐照实验实现方案。

主 题 词：GNSS接收机 EMIF接口 辐照实验 单粒子功能中断(SEFI) 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.16157/j.issn.0258-7998.2017.01.014

馆 藏 号：203211151...