引信系统电子产品加速寿命试验方法研究

作     者：李晨阳 Li Chen-yang

作者机构：北京航天长征飞行器研究所北京100076 

出 版 物：《导弹与航天运载技术》 (Missiles and Space Vehicles)

年 卷 期：2017年第1期

页      码：89-92页

摘      要：针对引信系统电子类单机寿命长、可靠性高、试验子样少的特点,通过对不同试验与数据评估的比较,提出了基于激活能预估的加速寿命试验设计与评价方法。试验结果表明:采用关键、薄弱环节激活能替代引信电子类单机产品激活能进行加速寿命试验设计和评估的方法可行,有助于解决此类产品寿命与可靠性评估因研制周期紧凑、参试子样少造成的困难。

主 题 词：引信系统 加速寿命试验 可靠性 

学科分类：11[军事学] 080904[080904] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 110503[110503] 0810[工学-土木类] 1105[1105] 1104[1104] 082601[082601] 081105[081105] 0826[工学-生物医学工程类] 081001[081001] 081002[081002] 0811[工学-水利类] 

D　O　I：10.7654/j.issn.1004-7182.20170121

馆 藏 号：203216079...