虚拟仪器在存储元件记忆特性测试中的应用

作     者：俞承芳 虞惠华 汤庭鳌 

作者机构：复旦大学电子工程系上海200433 

基　　金：863项目国家自然科学基金项目(69876008)资助 

出 版 物：《半导体技术》 (Semiconductor Technology)

年 卷 期：2001年第26卷第4期

页      码：53-56页

摘      要：论述了虚拟仪器在存储元件测量中的应用；介绍了采用虚拟仪器测试存储元件记忆特性的方法，并指出虚拟仪器的功能在基本硬件确定之后，可通过软件编程来实现，因而具有很大的灵活性，在对程序稍作修改后能适用于不同存储器件的测试。

主 题 词：存储元件 虚拟仪器 控制面板 记忆特性测试 程序设计 

学科分类：08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 080402[080402] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1003-353X.2001.04.016

馆 藏 号：203216939...