SICK-LMS 291激光扫描仪单机检校方法研究

作     者：马浩 裴智惠 MA Hao;PEI Zhi-hui

作者机构：首都师范大学北京100038 中国测绘科学研究院北京100039 北京四维远见信息技术有限公司北京100039 北京东方道迩信息技术有限责任公司北京100080 

基　　金：国家高技术研究发展计划(863计划)重点项目(2008AA121303) 

出 版 物：《测绘科学》 (Science of Surveying and Mapping)

年 卷 期：2012年第37卷第6期

页      码：104-106页

摘      要：激光扫描仪测量是获取三维空间信息的最有效方法之一。本文通过设计针对性的试验分析了SICK-LMS291激光扫描仪的测角和测距精度,建立数学模型分别求解了其距离和角度改正参数,结果表明改正后的激光扫描仪距离和角度测量精确度都得到了明显的提高,验证了本文采用的检校方法的可行性。

主 题 词：激光扫描仪 检校 加常数 乘常数 

学科分类：070801[070801] 07[理学] 08[工学] 0708[理学-地球物理学类] 0816[工学-纺织类] 

核心收录：

D　O　I：10.16251/j.cnki.1009-2307.2012.06.057

馆 藏 号：203217024...