基于C8051的片上调试单元设计

作     者：俞小平 唐映强 李世伟 YU Xiaoping;TANG Yingqiang;LI Shiwei

作者机构：无锡中微爱芯电子有限公司江苏无锡214072 

出 版 物：《电子与封装》 (Electronics & Packaging)

年 卷 期：2017年第17卷第3期

页      码：19-21,25页

摘      要：随着半导体工艺与集成电路技术的快速发展,微处理器的集成度越来越高,在设计中开发比较大的应用程序时,强劲的调试手段是非常重要的。当bug复杂到无法分析时,只能用调试来追踪它,集成片上调试功能更显得尤为重要。基于C8051 IP设计了一个片上调试单元,将调试功能集成到单片机内部。通过配置不同的操作指令,该片上调试单元可实现断点指令、地址断点、停止及单步执行程序、数据观察点、运行到光标处等调试功能。

主 题 词：集成电路 片上调试 C8051 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.16257/j.cnki.1681-1070.2017.0031

馆 藏 号：203218058...