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用于激光测距的1572nm窄带滤光膜

用于激光测距的1572nm窄带滤光膜

作     者:岳威 洪冬梅 刘国喜 韩永昶 刘连泽 杨蕊 Yue Wei;Hong Dongmei;Liu Guoxi;Han Yongchang;Liu Lianze;Yang Rui

作者机构:华北光电技术研究所固体激光技术国家级重点实验室北京100015 

出 版 物:《强激光与粒子束》 (High Power Laser and Particle Beams)

年 卷 期:2010年第22卷第8期

页      码:1819-1822页

摘      要:介绍了用于激光测距机的1 572 nm窄带滤光膜的用途、特性和制备方法。利用计算机优化软件对多腔结构进行计算后,得到了损耗小、制备方便、重复性好的膜系设计。讨论了薄膜的光谱、温漂及均匀性等主要技术问题后,给出了特性测试和环境实验结果。目前相关的带宽12 nm滤光膜应用在新型激光测距机中分别达到了精度±5 m和重复频率(1±0.1)Hz下11 km的使用效果。

主 题 词:激光测距 窄带滤光膜 多腔结构 均匀性 

学科分类:0808[工学-自动化类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080501[080501] 0805[工学-能源动力学] 0702[理学-物理学类] 

核心收录:

D O I:10.3788/HPLPB20102208.1819

馆 藏 号:203218518...

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