微波强度关联图像辐射性能敏感性分析

作     者：袁玉 李传荣 李晓辉 周勇胜 马灵玲 Yuan Yu;Li Chuanrong;Li Xiaohui;Zhou Yongsheng;Ma Lingling

作者机构：中国科学院光电研究院定量遥感信息技术重点实验室北京100094 中国科学院大学北京100049 

基　　金：国家863计划项目(2013AA122903 2013AA122102) 国家自然科学基金项目(41101335) 中国科学院 国家外国专家局创新团队国际合作伙伴计划资助 

出 版 物：《遥感技术与应用》 (Remote Sensing Technology and Application)

年 卷 期：2015年第30卷第1期

页      码：155-162页

摘      要：微波强度关联成像技术通过发射时空两维随机辐射场,并与接收的目标回波强度数据进行关联以实现超天线孔径限制的微波成像。作为一种新型静止雷达成像技术,其不同模型参数对于重构图像辐射性能影响尚不明确。基于微波强度关联成像模型,通过改变模型参数设置,可以获得观测矩阵和重构图像的辐射特性变化趋势,以此分析不同参数设置下图像的辐射性能。分析结果表明:改进天线阵元数目、带宽等模型参数,能有效提高图像辐射性能,尤其是大场景高分辨率的成像区域;增大天线平台高度和网格长度,图像辐射性能有所降低;对于地物均匀的场景,系统设计要求相对较低。分析结果将有助于改善系统设计参数。

主 题 词：微波成像 强度关联图像 辐射性能 

学科分类：080904[080904] 0810[工学-土木类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 081105[081105] 081001[081001] 081002[081002] 0825[工学-环境科学与工程类] 0811[工学-水利类] 

核心收录：

D　O　I：10.11873/j.issn.1004-0323.2015.1.0155

馆 藏 号：203223644...