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n沟道4H-SiC MESFET研究

n沟道4H-SiC MESFET研究

作     者:陈刚 CHEN Gang

作者机构:南京电子器件研究所南京210016 

出 版 物:《固体电子学研究与进展》 (Research & Progress of SSE)

年 卷 期:2005年第25卷第2期

页      码:177-179,218页

摘      要:报告了4H-SiCMESFET的研制。通过对SiC关键工艺技术进行研究,设计出初步可行的工艺流程,并且制成单栅宽120μmn沟道4H-SiCMESFET,其主要直流特性为在Vds=30V时,最大漏电流密度Idss为56mA/mm,最大跨导Gm为15mS/mm;漏源击穿电压最高达150V;微波特性测试结果在fo=1GHz、Vds=32V时该器件最大输出功率7.05mW,在fo=1.8GHz、Vds=32V时最大输出功率3.1mW。

主 题 词:4H碳化硅 金属半导体场效应管 微波 宽禁带半导体 

学科分类:080903[080903] 080801[080801] 0808[工学-自动化类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080501[080501] 0805[工学-能源动力学] 080502[080502] 

核心收录:

D O I:10.3969/j.issn.1000-3819.2005.02.008

馆 藏 号:203224008...

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