基于SOPC/Nios-Ⅱ的高性价比频率特性分析仪

作     者：张志坚 宋跃 

作者机构：东莞理工学院电子工程学院广东东莞523808 

基　　金：广东省工业攻关计划资助项目(2005B10101042) 东莞市2006年科技计划资助项目(第2批序号11) 

出 版 物：《电测与仪表》 (Electrical Measurement & Instrumentation)

年 卷 期：2009年第46卷第11期

页      码：59-62页

摘      要：为实现基于SPOC/NiosⅡ高性价比的频率特性分析仪,在Altera-Cyclone EP1C6Q240中嵌入软核处理器NiosII,在NiosⅡ控制下自动产生0～10V/0.1Hz～1MHzDDS扫频正弦波输出到被测系统,然后对经过被测系统的信号进行峰值与相位测量,通过计算得出被测系统的幅频/相频特性,进而完成系统的频率特性测试。实验效果好,实践表明该设计是切实可行的。文中详细介绍系统结构、模拟电路的同时,重点讲述了NiosⅡ-FPGA/SOPC的设计思想和实现方法。

主 题 词：片上可编程系统 频率特性分析仪 直接数字信号合成 

学科分类：0810[工学-土木类] 080802[080802] 0808[工学-自动化类] 08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 080402[080402] 0835[0835] 081002[081002] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1001-1390.2009.11.015

馆 藏 号：203225591...