TR系列电源芯片测试开发

作     者：周时宜 

作者机构：上海先进半导体制造股份有限公司上海200233 

出 版 物：《仪表技术》 (Instrumentation Technology)

年 卷 期：2013年第8期

页      码：50-54页

摘      要：随着集成电路产业的不断发展,性价比高的集成电路已是集成电路制造商所追求的目标。在集成电路日益普及的今天,新产品开发项目越来越多,同时对测试提出了越来越高的要求。文章所叙述的名为"烧断式三端稳压电源"芯片测试开发,因为该芯片需要通过测试过程烧出各种电压值,故"测试"在这里已不是常规意义上的测试,而是工艺的延续,是完成芯片功能的关键一步。由于在该芯片上可烧出不同的电压值,因此该芯片用途广,需求量大。文中着重介绍了测试设计,硬件制作及软件编写过程。

主 题 词：电源芯片 测试 测试包 

学科分类：080801[080801] 0808[工学-自动化类] 08[工学] 

D　O　I：10.19432/j.cnki.issn1006-2394.2013.08.016

馆 藏 号：203227278...