双谱耦合性质对故障诊断的影响

作     者：吴文兵 黄宜坚 陈文芗 WU Wen-bing;HUANG Yi-jian;CHEN Wen-xiang

作者机构：厦门大学信息科技学院福建厦门361000 华侨大学机电及自动化学院福建泉州362021 

基　　金：国家自然科学基金(50975098) 厦门市科技计划项目(3502Z20123013) 

出 版 物：《机械设计与制造》 (Machinery Design & Manufacture)

年 卷 期：2013年第11期

页      码：82-84页

摘      要：为了对双谱的耦合性质进行分析,同时利用三阶累积量和双谱对溢流阀进行故障诊断。由于双谱与三阶累积量相比,可以用来描述二次相位耦合,对比实验结果表明,故障的种类不同,其耦合信息对于这些故障判断的影响也不一样。实验中还通过二维小波在不同的方向上对故障信号和正常信号进行特征提取,然后将这些特征值输入支持向量机进行故障判别,实验结果表明,无论考虑耦合因素与否,这些故障信号在不同的频率部分与其正常状态的区分程度都不一样。

主 题 词：三阶累积量 耦合 二维小波 故障诊断 

学科分类：12[管理学] 1201[管理学-管理科学与工程类] 08[工学] 0802[工学-机械学] 080201[080201] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1001-3997.2013.11.025

馆 藏 号：203227396...