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光纤式内表面检测与自适应采样方法的研究

光纤式内表面检测与自适应采样方法的研究

作     者:赵勇 李鹏生 廖延彪 

作者机构:清华大学电子工程系北京100084 哈尔滨工业大学自动化测控系哈尔滨150001 

出 版 物:《光学技术》 (Optical Technique)

年 卷 期:2002年第28卷第1期

页      码:38-40页

摘      要:提出一种用于复杂内轮廓表面检测的新型单模光纤传感器 ,建立了镜面反射条件下的数学模型。根据轮辐式设计的二维光纤阵列探头结构 ,不仅可以得到被测点处的高度信息 ,还可同时得到倾斜信息 ,有效地解决了高度测量时表面倾斜给测量带来的影响。能对光源波动、表面反射率变化等引起的测量信号不稳定问题起到一定的补偿作用。为了提高采样效率 ,提出了一种曲线外插估计法 ,给出下一个测量点的位置。

主 题 词:单模光纤传感器 内表面测量 自适应采样 外插估计 逆向工程 

学科分类:0810[工学-土木类] 08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 080402[080402] 0835[0835] 081002[081002] 0803[工学-仪器类] 

核心收录:

D O I:10.3321/j.issn:1002-1582.2002.01.002

馆 藏 号:203227761...

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