辐射成像无损检测技术中辐射源几何尺寸引起图像模糊的恢复

作     者：顾伯华 周立业 安继刚 

作者机构：清华大学核能技术设计研究院北京100084 

基　　金：国家"九五"攻关项目 

出 版 物：《核电子学与探测技术》 (Nuclear Electronics & Detection Technology)

年 卷 期：2002年第22卷第1期

页      码：17-19页

摘      要：对辐射成像无损检测系统中辐射源几何尺寸引起的图像模糊进行了分析 ,并测量了辐射源模糊的冲击响应函数。利用维纳滤波对模糊图像进行恢复。对其中的图像信号功率谱和噪声功率谱提出新的计算方法。

主 题 词：辐射成像无损检测系统 模糊图像 冲击响应函数 图像恢复 维纳滤波功率谱 辐射源 几何尺寸 

学科分类：082703[082703] 0808[工学-自动化类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 0827[工学-食品科学与工程类] 0703[理学-化学类] 081102[081102] 0811[工学-水利类] 1009[医学-法医学类] 0702[理学-物理学类] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.0258-0934.2002.01.005

馆 藏 号：203227787...