高分辨率X射线探测器读出电子学系统的研制及性能测试

作     者：张红凯 冯召东 李晓辉 杜秋宇 魏书军 刘双全 秦秀波 魏存峰 魏龙 ZHANG Hong-kai;FENG Zhao-dong;LI Xiao-hui;DU Qiu-yu;WEI Shu-jun;LIU Shuang-quan;QIN Xiu-bo;WEI Cun-feng;WEI Long

作者机构：中国科学院高能物理研究所核辐射与核能技术重点实验室北京100049 北京市射线成像技术与装备工程技术研究中心北京100049 中国科学院大学北京100049 核探测与核电子学国家重点实验室北京100049 

基　　金：国家重大科学仪器设备开发专项资助(2011YQ03011205 2013YQ03062902) 国家自然科学基金大装置联合基金重点资助项目(U1332202) 

出 版 物：《原子能科学技术》 (Atomic Energy Science and Technology)

年 卷 期：2015年第49卷第3期

页      码：534-539页

摘      要：本文针对光锥耦合X射线探测器低噪声的设计要求,研制了一套读出电子学系统,该系统包括模拟驱动电路、前端处理电路及基于现场可编程门阵列（FPGA）的数字信号处理电路。利用X射线成像平台,对研发的探测器进行了性能测试。探测器系统绝对增益为0.168 6DN/e-,线性工作范围为0-154μGy。制冷温度为-20℃时,暗电流噪声为0.037e-/（pixel·s）,读出噪声为10.9e-。探测器的本征空间分辨率达16lp/mm。测试结果表明,研制的读出电子学系统能满足高分辨率X射线探测器对低噪声特性的需求。

主 题 词：X射线探测器 读出电子学 现场可编程门阵列 

学科分类：082704[082704] 08[工学] 0827[工学-食品科学与工程类] 

核心收录：

D　O　I：10.7538/yzk.2015.49.03.0534

馆 藏 号：203228108...