基于遗传算法的故障样本优化选取方法

作     者：邓露 许爱强 吴忠德 DENG Lu;XU Ai-qiang;WU Zhong-de

作者机构：海军航空工程学院飞行器检测与应用研究所山东烟台264001 

基　　金：总装武器装备预研基金(9140A27020212JB14311)资助课题 

出 版 物：《系统工程与电子技术》 (Systems Engineering and Electronics)

年 卷 期：2015年第37卷第7期

页      码：1703-1708页

摘      要：为降低测试性验证试验费用,提出基于遗传算法的故障样本优化选取方法。方法通过故障—测试关联分析和故障—故障等价分析,确定初始故障样本集中各元素对应的等价集,并对初始故障样本集进行扩展,在此基础上,建立了故障样本选取优化求解模型。在不降低样本注入数量和测试特性的条件下,以试验费用最小为优化目标,给出了基于改进遗传算法的样本优化选取方法。算例应用结果表明,该方法设计的故障样本选取方法能有效降低测试性验证试验费用。

主 题 词：测试性验证试验 试验费用 遗传算法 故障样本选取 等价集 

学科分类：0808[工学-自动化类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 0802[工学-机械学] 081101[081101] 0811[工学-水利类] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.1001-506x.2015.07.36

馆 藏 号：203228212...