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常用芯片检测的设计与实现

常用芯片检测的设计与实现

作     者:白小平 高雁 

作者机构:西安电子科技大学机电工程学院陕西西安710071 

出 版 物:《现代电子技术》 (Modern Electronics Technique)

年 卷 期:2003年第26卷第18期

页      码:40-41页

摘      要:介绍了一种常用芯片检测系统的设计方案与实现。其优点是简单实用、操作方便、可以迅速地检测出芯片的工作是否正常。文中阐述了系统的设计思路 ,同时也给出了相应的原理框图和程序流程图。

主 题 词:芯片检测 数据比较 程序流程图 单片机 检测原理 

学科分类:080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D O I:10.3969/j.issn.1004-373X.2003.18.015

馆 藏 号:203228923...

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