中高频四端口网络频率特性测试仪设计

作     者：李小亮 王丽霞 LI Xiaoliang;WANG Lixia

作者机构：黄河科技学院信息工程学院郑州450000 

基　　金：郑州市重点建设实验室项目(ZZLG201414) 

出 版 物：《电子器件》 (Chinese Journal of Electron Devices)

年 卷 期：2017年第40卷第3期

页      码：612-616页

摘      要：频率特性测试仪主要用来测量四端口网络的频率特性和相频特性,广泛应用于现代电子、通信等测量领域。基于Altera公司的CycloneⅢ系列EP3C16F256C8芯片,采用DDS技术产生100 k Hz^40 MHz的两路正交扫频信号,根据正交调制解调原理和现代显示技术实现对一中高频四端口网络幅频特性和相频特性曲线的测量显示。扫频间隔Δf为10 k Hz,幅频特性测量误差小于1 d B,相频特性测量精度优于3°。

主 题 词：FPGA 频率特性 正交调制 DDS 

学科分类：0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1005-9490.2017.03.019

馆 藏 号：203231065...