中子数字成像FPGA抗辐照技术研究

作     者：黄继鹏 田睿 王延杰 王连明 孟艳丽 Huang Jipeng;Tian Rui;Wang Yanjie;Wang Lianming;Meng Yanli

作者机构：东北师范大学物理学院长春130024 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所长春130033 

基　　金：国家自然科学基金项目(11305034) 吉林省科技发展计划项目(20150520084JH) 吉林省教育厅十二五科技项目(2014B042) 

出 版 物：《强激光与粒子束》 (High Power Laser and Particle Beams)

年 卷 期：2017年第29卷第7期

页      码：54-59页

摘      要：中子数字成像试验中,现场可编程门阵列(FPGA)是重要的成像逻辑控制器件。然而,中子辐照易引起FPGA的单粒子效应,对中子成像引入本底噪声,因此必须采取措施,减少中子辐照对FPGA成像的影响。结合图像周期性的特点,采用三判二的技术方法替代三模冗余,裁决成像关键信号;采用硬件实现的中值滤波算法,平滑由于RAM区单粒子翻转等原因呈现在图像上的噪点。仿真结果表明,本文采用的两种技术方法不但降低资金成本,提高FPGA资源冗余度,而且在取得良好的抗辐照滤波效果的同时,保留图像细节。时序仿真和硬件平台验证了设计的正确性。

主 题 词：中子成像 FPGA 三判二 中值滤波 无损检测 

学科分类：080903[080903] 082703[082703] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 0827[工学-食品科学与工程类] 

核心收录：

D　O　I：10.11884/HPLPB201729.170009

馆 藏 号：203232102...