二控三型TSC快速重复投切晶闸管闭锁问题研究

作     者：张维 肖国春 胡磊磊 王兆安 

作者机构：西安交通大学电气工程学院西安710049 

出 版 物：《电工技术学报》 (Transactions of China Electrotechnical Society)

年 卷 期：2012年第27卷第12期

页      码：109-116页

摘      要：基于零过渡投切原则,对低压配电系统常用的二控三型TSC装置电容器组快速重复投切时出现晶闸管闭锁现象的发生过程进行了详细地分析,并对发生该现象的概率进行了计算。结合实际情况分析了电容器组损耗、放电电阻及残压等参数对重复投切时间响应的影响,并对防止出现晶闸管闭锁现象提出了解决方法,提高了TSC装置的响应速度和可靠性。通过仿真和实验对上述理论研究结果进行了验证,为设计快速响应的TSC装置提供了依据。

主 题 词：晶闸管投切电容器 过零投切 重复投切 闭锁 概率 

学科分类：0808[工学-自动化类] 080802[080802] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

核心收录：

D　O　I：10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.2012.12.016

馆 藏 号：203232496...