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一种常用数字电路芯片功能检测系统

一种常用数字电路芯片功能检测系统

作     者:刘艳 高茜 张斌 景昊 唐海贤 LIU Yan;GAO Xi;ZHANG Bin;JING Hao;TANG Haixian

作者机构:河海大学物联网工程学院江苏常州213022 

基  金:江苏高校品牌专业建设工程资助项目(PPAY2015B141) 河海大学高等教育科学研究2015年度立项课题(20151212) 

出 版 物:《实验室研究与探索》 (Research and Exploration In Laboratory)

年 卷 期:2017年第36卷第5期

页      码:68-71页

摘      要:开发了一种芯片功能检测系统,该系统基于实践教学中的与非门、反相器、数据选择器、计数器、译码器、显示译码器等常用芯片进行设计,由上位机和硬件电路两部分组成。上位机用以实现对芯片功能表或真值表的输入、管理及发送;硬件电路负责接收功能表或真值表信号并完成芯片的检测,得出芯片是否损坏或功能是否正常的结果,并显示或报警。本系统可以降低数字电路实践中检测芯片的难度和复杂度,并提高准确度,为实验结果的正确性奠定了基础。

主 题 词:数字电路 芯片检测 实践教学 

学科分类:080903[080903] 0401[教育学-教育学类] 04[教育学] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 040102[040102] 

D O I:10.3969/j.issn.1006-7167.2017.05.018

馆 藏 号:203233243...

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