看过本文的还看了

相关文献

该作者的其他文献

文献详情 >高介、低损耗Ba(Ti,Zr)O_3基电容器陶瓷的研究 收藏
高介、低损耗Ba(Ti,Zr)O_3基电容器陶瓷的研究

高介、低损耗Ba(Ti,Zr)O_3基电容器陶瓷的研究

作     者:黄新友 牛宾 江晓霞 侍克虎 HUANG Xin-you;Niu Bin;JIANG Xiao-xia;SHI Ke-hu

作者机构:江苏理工大学材料科学与工程学院江苏镇江212013 

出 版 物:《江苏理工大学学报(自然科学版)》 (Journal of Jiangsu University of Science and Technology(Natural Science))

年 卷 期:2001年第22卷第1期

页      码:66-70页

摘      要:采用正交设计实验法研究了配方对Ba(Ti,Zr)O3(BTZ)基电容器陶瓷介电性能的影响 ,得到了影响BTZ基陶瓷介电性能的主次因素 ,各因素水平影响其性能的趋势 对介电常数而言 ,主次影响因素的顺序为Nb2 O5、BaZrO3/BaTiO3、ZnO、CeO2 ;对介质损耗而言 ,主次影响因素的顺序为Nb2 O5、ZnO、CeO2 、BaZrO3/BaTiO3 同时得到了介电常数最大的配方和介质损耗最小的配方 通过正交设计实验得到了综合性能最佳的BTZ基陶瓷 ,它具有高介 (ε)≥1 32 0 0低损耗 (tanδ) <60× 1 0 - 4 和高耐压 (大于 5MV/m) 探讨了各组分对BTZ基陶瓷介电性能影响机理 ,为研制高介、低损耗。

主 题 词:BT二基 陶瓷电容器 铁电 正交设计 铁酸钡 铝酸钡 

学科分类:080801[080801] 0808[工学-自动化类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D O I:10.3969/j.issn.1671-7775.2001.01.017

馆 藏 号:203233291...

读者评论 与其他读者分享你的观点

用户名:未登录
我的评分