EH包层模及互耦合对长周期光纤光栅谱特性的影响

作     者：张自嘉 施文康 ZHANG Zi-jia,SHI Wen-kang (School of Electrical and Information Eng., Shanghai Jiaotong Univ., Shanghai 200030, China)

作者机构：上海交通大学电子信息与电气工程学院上海200030 

出 版 物：《上海交通大学学报》 (Journal of Shanghai Jiaotong University)

年 卷 期：2004年第38卷第2期

页      码：220-223页

摘      要：利用光波导的模耦合理论以及光纤中传播常数与波长的近似线性关系,研究了基于导模和不同包层模耦合的长周期光纤光栅的透射谱特点.对一阶低次包层模,透射谱较窄,随着模序增加,透射谱变宽;在某一模序附近,谱宽达到最大;以后随模序增大,谱宽迅速变小.对模序较高的包层模(一阶),相邻的HE和EH包层模的传播常数相差不大,而且导模和它们的耦合系数接近,因此能够在较近的波段范围内同时和它们产生耦合,从而对谱分布产生一定影响.包层模互耦合的条件较难满足,即使偶有满足其影响也很小,可以忽略.利用不同的包层模,可以设计出透射谱很宽或很窄的长周期光纤光栅.

主 题 词：长周期光纤光栅 包层模 谱特性 耦合 

学科分类：08[工学] 0803[工学-仪器类] 

核心收录：

D　O　I：10.3321/j.issn:1006-2467.2004.02.018

馆 藏 号：203234029...