边界扫描测试技术在雷达BIT电路中的应用

作     者：察豪 杨智 冷东方 Cha Hao;Yang Zhi;Leng Dongfang

作者机构：海军电子工程学院 中国人民解放军38615部队 

出 版 物：《现代雷达》 (Modern Radar)

年 卷 期：2000年第22卷第1期

页      码：50-53页

摘      要：提出了一种采用超大规模集成电路的边界扫描测试技术来设计内建自测试 (BIT)电路的方法。此方法利用一片单片机的 I/ O口线以及超大规模集成电路所具有的边界扫描测试结构来实现对 VL SI集成电路芯片的故障诊断。

主 题 词：边界扫描测试 BIT电路 雷达 VLSI 

学科分类：080904[080904] 0810[工学-土木类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 081105[081105] 081001[081001] 081002[081002] 0825[工学-环境科学与工程类] 0811[工学-水利类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1004-7859.2000.01.010

馆 藏 号：203234484...