基于测试操作划分的低峰值功耗扫描测试

作     者：李锐 杨军 吴光林 凌明 时龙兴 

作者机构：东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心江苏南京210096 

基　　金：国家自然科学基金(60176018) 江苏省高技术研究(BG2001015)资助项目 

出 版 物：《应用科学学报》 (Journal of Applied Sciences)

年 卷 期：2004年第22卷第2期

页      码：167-172页

摘      要：提出了对同一时钟域中寄存器的测试操作进行划分的方法来降低测试峰值功耗,并且这种划分不需要重新生成测试向量,支持划分前生成测试向量的复用.实验表明,在稍微增加测试时间的条件下,所提出的测试方法能同时降低电路的峰值功耗、平均功耗和能耗.

主 题 词：峰值功耗 可测性设计 系统芯片 集成电路 扫描测试 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.0255-8297.2004.02.010

馆 藏 号：203234900...