微处理器容软错误设计量化评估指标及评估方法

作     者：龚锐 郭御风 邓宇 石伟 窦强 GONG Rui;GUO Yufeng;DENG Yu;SHI Wei;DOU Qiang

作者机构：国防科技大学计算机学院湖南长沙410073 

基　　金：国家自然科学基金资助项目(61202123 61202122 61402497) 

出 版 物：《国防科技大学学报》 (Journal of National University of Defense Technology)

年 卷 期：2017年第39卷第3期

页      码：64-68页

摘      要：针对高可靠微处理器软容错设计,提出了一种新的可靠性度量标准,增强的平均无失效工作量,以解决现有度量标准没有综合考虑性能、面积、功耗开销带来的可靠性降低的缺点;提出了一种评估方法对增强的平均无失效工作量以及两种控制流检测技术进行定量评估。评估结果表明,软硬件结合的控制流检测技术较好地折中了可靠性、性能、面积和功耗。量化评估指标全面考虑了多种开销对微处理器可靠性的影响,采用相应的评估方法可以更加准确地对微处理器可靠性加固手段进行定量评估,以指导设计探索和设计优化。

主 题 词：容软错误 量化评估 评估方法 微处理器 可靠性 

学科分类：0808[工学-自动化类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 0805[工学-能源动力学] 0802[工学-机械学] 0701[理学-数学类] 081201[081201] 0702[理学-物理学类] 0812[工学-测绘类] 0801[工学-力学类] 

核心收录：

D　O　I：10.11887/j.cn.201703011

馆 藏 号：203237232...