减小ESD引起的停机时间

作     者：VLakshminarayanan 

作者机构：CenterforDevelopmentofTelematics 

出 版 物：《电子设计技术 EDN CHINA》 (EDN CHINA)

年 卷 期：2005年第12卷第6期

页      码：54-54,56,58,60-61页

摘      要：ESD(静电放电)是导致电子器件失效的主要原因,它可以在任何阶段--从制造到测试、组装、生产、现场运行以及现场PC装配等--影响电子器件的功能.专家估计,1994年全世界电子行业因ESD造成的损失超过900亿美元(参考文献1).ESD的发生原因是电荷在某一表面的累积,如摩擦生电.但是,由于电子产品的快速小型化,导致器件的几何尺寸缩小,其中包括层厚度,因此这些高密度器件就很容易受到很小ESD造成的损坏.

主 题 词：停机时间 ESD 减小 半导体器件 静电放电 设计规则 失效 

学科分类：080805[080805] 0808[工学-自动化类] 08[工学] 0822[工学-核工程类] 

馆 藏 号：203239337...