基于FPGA的碳纳米管电特性测量

作     者：何斌 傅星 吴森 He Bin;Fu Xing;Wu Sen

作者机构：天津大学精仪学院光电测控研究所天津300072 

出 版 物：《电子测量技术》 (Electronic Measurement Technology)

年 卷 期：2008年第31卷第7期

页      码：192-195页

摘      要：碳纳米管的优良电特性受到了广泛的关注,本文介绍了一套能够实现对碳纳米管进行电特性测量的系统,其中包括:基于FPGA的DDS技术产生激励的原理设计的电路结构;AFM测量平台以及搭载碳纳米管的电极装置。该系统能够完成从碳纳米管的观测到测试,激励电路能够产生高精度任意波形;AFM能够观测并推动碳纳米管;电极能够实现对碳纳米管阻抗的测试和微型FET的测试。

主 题 词：碳纳米管电特性 数字频率合成技术 现场可编程逻辑阵列 原子力显微镜 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080501[080501] 0805[工学-能源动力学] 080502[080502] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1002-7300.2008.07.052

馆 藏 号：203240309...