吉时利发布用于半导体器件探测和特征分析设备的混合信号互连解决方案

出 版 物：《电子与电脑》 (Compotech)

年 卷 期：2009年第9卷第5期

页      码：84-84页

摘      要：吉时利仪器公司日前发布测试界第一个利用一套线缆即可处理I-V、C-V和脉冲I-V信号的互连解决方案（正申请专利）。本款最新布线套件基于专利型设计，能大大加快并简化从任意先进半导体参数分析仪到Cascade Microtech或SUSS MicroTec探测器进行直流电流一电压（I-V）、电容一电压（C-V）和脉冲I-V测试互连的过程。互连线的设计与吉时利4200-SCS半导体特征分析系统以及其他一些用于特征分析的测试仪器兼容。

主 题 词：吉时利仪器公司 半导体器件 混合信号 互连线 探测器 分析设备 特征 4200-SCS 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080501[080501] 0805[工学-能源动力学] 080502[080502] 0803[工学-仪器类] 

馆 藏 号：203240712...