基于CPLD的线阵CCD尺寸测量系统研究

作     者：秦旭磊 孙振路 陆学飞 

作者机构：长春理工大学吉林长春130022 河北省科学院激光研究所河北石家庄050081 

出 版 物：《河北省科学院学报》 (Journal of The Hebei Academy of Sciences)

年 卷 期：2011年第28卷第4期

页      码：7-9,21页

摘      要：利用CCD传感器对工件进行测量是非接触测量领域的常用方法,本文介绍了一种基于线阵CCD器件TCD1206的微器件尺寸测量系统的设计方法,对系统的组成原理和工作方式进行了论证,硬件部分使用了Altera公司的CPLD器件,实验表明系统设计方案可行,测量精度达到±0.01mm,符合设计要求。

主 题 词：线阵CCD 非接触测量 测量精度 

学科分类：08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 080402[080402] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1001-9383.2011.04.003

馆 藏 号：203248275...