集成电路老化测试系统的数据通信接口设计

作     者：胡舜峰 张福洪 陈妍芬 徐春晖 Hu Shunfeng;Zhang Fuhong;Chen Yanfen;Xu Chunhui

作者机构：杭州电子科技大学通信工程学院浙江杭州310018 

出 版 物：《杭州电子科技大学学报（自然科学版）》 (Journal of Hangzhou Dianzi University：Natural Sciences)

年 卷 期：2015年第35卷第6期

页      码：46-49页

摘      要：新一代大规模集成电路高温动态老化系统的设计是近年来研究的热点。以现场可编程逻辑门阵列作为核心平台,通过高速数据接口,将上位机中的数据传输到老化测试芯片中,同时把老化过程中的相关数据反馈回上位机。通过FPGA软硬件平台验证表明,该数据通信接口设计能够很好地完成集成芯片的老化过程,较传统的静态老化系统有很大的改进和提高。

主 题 词：集成电路 动态老化 接口设计 现场可编程逻辑门阵列 

学科分类：0810[工学-土木类] 08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 080402[080402] 0835[0835] 081002[081002] 

D　O　I：10.13954/j.cnki.hdu.2015.06.010

馆 藏 号：203248421...